استفاده از طیف نوری مادون قرمز FTIR برای تعیین سرعت سفت شدن مواد الکترونیکی.

صنعت الکترونیک اغلب از مواد مبتنی بر رزین (مانند ورق های نیمه سخت ، جوهر های مقاوم در جوش ، چسب ها و سه ضد رنگ) برای دستیابی به پیوند ساختاری یا عایق الکتریکی استفاده می کند.این که آیا مواد رزین می تواند به طور کامل درمان می شود به طور مستقیم بر قدرت اتصال مواد تاثیر می گذارد، و سپس بر کیفیت و قابلیت اطمینان محصول تاثیر می گذارد. بنابراین، در استفاده واقعی از فرآیند برای اطمینان از اینکه این ماده رزین به طور کامل درمان می شود،نظارت بر سرعت خشک شدن ضروری است.. نرخ سفت شدن یک شاخص برای ارزیابی وضعیت شیمیایی و فیزیکی مواد رزین از مایع یا نیمه جامد به جامد است.درجه واکنش نمونه خشک شده را می توان مشاهده کرد و عملکرد مواد را می توان در استفاده واقعی کنترل کرد.روش های اندازه گیری رایج زیادی وجود دارد و طیف نوری فراتransform infrared FTIR Fourier یک فناوری ساده و آسان نظارت است.در زیر از چسب UV-curable به عنوان یک مثال برای نشان دادن استفاده از طیف نوری مادون قرمز FTIR در تعیین سرعت خشک شدن استفاده می شود. 1.1ابزارها و روش های آزمایش Bruker ALPHA II Fourier transform infrared spectrometer برای قرار دادن نمونه مورد آزمایش بر روی کریستال ATR جدول نمونه استفاده شد.و روش آزمایش برای بدست آوردن طیف مادون قرمز آغاز شدآزمایش سه بار به طور موازی در سه مکان مختلف از یک نمونه انجام شد.2. محدوده تعداد امواج پارامترهای آزمایش نمونه: 4000-400cm-1؛ وضوح: 4cm-1؛ زمان اسکن: 32 بار.3. Curing rate calculation principle Quantitative analysis of infrared spectrum is based on the measurement of the peak area of the characteristic absorption spectrum to calculate the content of each componentدر این آزمایش، روش نسبت اوج نسبی مورد استفاده قرار گرفت.از طیف سنج مادون قرمز برای آزمایش طیف مادون قرمز مواد خام خشک نشده و نمونه های خشک شده استفاده شده است.، و از نرم افزار برای ادغام قله اندازه گیری و قله مرجع انتخاب شده استفاده شد و نرخ سفت شدن با توجه به فرمول محاسبه نرخ سفت شدن بدست آمد.چسب UV-curable توسط نور ماوراء بنفش شعله ور می شود، که در آن -C = C- پلیمریزه شده و واکنش نشان می دهد تا C-C را تشکیل دهد. میزان سفت شدن را می توان با تغییر -c = C- تعیین کرد.شکل هواپیما C-H بر روی پیوند دوگانه کربن-کربن متغیر است و بین 1010-667cm-1 نوسان می کند. اوج مشترک چسب UV 810±5cm-1 است و اوج در این منطقه نسبتاً تک، آسان برای تشخیص و قوی است، بنابراین به عنوان اوج اندازه گیری محاسبه می شود.در واکنش خشک کردن، C=O و C-O در چسب UV در واکنش شرکت نمی کنند، محتوای اساسا بدون تغییر است، و C=O (1720 cm-1) یا C-O (1150 cm-1) معمولا به عنوان یک قله مرجع استفاده می شود.به دلیل شدت بالا و ویژگی های آشکار اوج C=O در عمل اندازه گیری شده، اوج مشخصه C=O به عنوان اوج مرجع برای محاسبه انتخاب می شود. فرمول محاسبه این است: M'/R':نسبت سطح قله بین قله اندازه گیری محکم شده و قله مرجع M/R: نسبت ناحیه قله بین قله اندازه گیری بدون خشک شدن و قله مرجع 1.4نتایج محاسبه سرعت سفت شدن در این آزمایش، همان نمونه برای 3 بار به طور موازی آزمایش شد و میانگین مقدار نتیجه سرعت سفت شدن بود. جدول 1:داده ها و نتایج آزمایش سرعت سفت شدن نمونه 2مزایای FTIR در تعیین سرعت سفت شدن چسب UVFTIR یک آزمایش غیر مخرب است که هیچ گونه آسیب به نمونه ایجاد نمی کند و برای نمونه های ارزشمند یا محدودتر مناسب است.• پاسخ سریع: FTIR قادر به تکمیل آزمایشات در زمان کوتاه است تا نیازهای کنترل کیفیت سریع را برآورده کند. حساسیت و خاصیت بالا: FTIR قادر به تشخیص تغییرات شیمیایی کوچک است.ارائه تجزیه و تحلیل کمی دقیق از فرآیند خشک کردن.3 FTIR تعیین سرعت سفت شدن چسب UV خلاصه استفاده از آزمایش FTIR از سرعت سفت شدن چسب UV ساده و سریع است، نتایج قابل اعتماد، بدون درمان قبلی، بدون مصرف واکنش های شیمیایی،حفاظت از محیط زیست و ایمنیاین روش آزمایش نیاز به اندازه نمونه کوچک، اساسا نمونه غیر مخرب، مناسب برای آزمایش نمونه غیر مخرب دارد.تست FTIR از سرعت خشک شدن یک ابزار فنی بسیار ارزشمند برای ارزیابی مواد و فرآیندهای الکترونیکی رزین استعلاوه بر این، در تجزیه و تحلیل شکست، این فناوری همچنین می تواند به حل مشکلات شکست ناشی از سخت گیری ناکافی مواد کمک کند.ZESTRON R&S (قابل اطمینان و تکنولوژی سطح) دارای تجربه گسترده جهانی در تجزیه و تحلیل رابط سطح استدر مرکز تجزیه و تحلیل زسترون در شمال آسیاروش های تجزیه و تحلیل فنی مورد استفاده توسط R&S شامل اما محدود به بررسی چشم میکروسکوپ دیجیتال با وضوح بالا نیست.، IC کروماتوگرافی یون، آزمایش آلودگی یون ROSE، فرگشت فرگشت فراتون قرمز FTIR، آزمایش قابلیت اطمینان پوشش، آزمایش CoRe،تعیین ذرات و/یا تمیزکاری فنی تمیزکاری، میکروسکوپ الکترونی اسکن / تحلیلگر طیف انرژی اشعه ایکس (SEM / EDS) ، طیف انرژی اشعه ایکس XPS ، طیف انرژی الکترونی AES ، آزمایش لایه پوشش ، آزمایش فلوکس / رزین ،اندازه گیری زاویه تماس، اندازه گیری مقاومت عایق بندی سطح SIR، تجزیه و تحلیل دمایی دی تی ای، و غیره کارشناسان تحقیق و توسعه نه تنها خطر شکست را ارزیابی می کنند و اقدامات پیشگیرانه را توصیه می کنند،اما همچنین شکست های آزمایش اعتباربخشی و شکست های زمینه را در سطوح مکانیستی و ریشه ای تجزیه و تحلیل می کنند. اگر علاقه مند هستید، لطفا با ما در academy-china@zestron.com تماس بگیرید! .